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DC-DC降压芯片Rdson常用测量方法介绍

DC-DC降压芯片Rdson常用测量方法介绍

更新日期:2019-6-2

  随着科技的发展,体育产品的快速更新,对于电源管理芯片的要求也原来越高。  更小的封装尺寸  更大的负载电流  更高的工作效率  更低的功率损耗  更低的工作温升

DC-DC降压芯片Rdson常用测量方法介绍

  。。。。。。  芯片的工作效率就变的尤为重要了。对于DC-DC芯片来说,很大一部分的工作效率的损失来自开关管的导通损耗及开关损耗。当芯片开关上升和下降时间短,开关频率较低时,导通损耗便占了芯片总功耗的很大部分。开关导通阻抗(Rdson)的大小决定了导通损耗的大小,所以对于AE而言,精确测量Rdson就很重要。  降压芯片Rdson常用测量方法的介绍  利用100%占空比测量上管Rdson  将芯片FB脚对GND短路,将R1分压电阻去掉,此时芯片会以100%占空比工作。即上管Q1会长开,下管Q2会关断,Vout近似等于VCC。  VCC供电,在Vout与GND之间拉取电流负载IL(电流尽量避免过大,以免温度影响上管Rdson阻值),即流过上管Q1的电流,电流方向如图1所示。此时测量a点与b点的电压值U并记录(电压测量点必须紧贴芯片引脚端,最大程度减小PCB走线阻抗)  由欧姆定律R=U/I,可以计算出Rdson阻值。可以取多组数据,取平均值以减小误差。  注意:此方法只有在芯片上管是PMOS,可以100%占空比工作,才适用  利用示波器进行Rdson测量  简单估算  示波器3通道探棒接芯片SW脚(探针紧贴SW引脚,接地线紧贴GND引脚减小PCB走线阻抗),示波器通道4电流探头(型号:TeKtronixTCP202)测试电感电流。  VCC供电,让芯片工作在PWM电流连续模式,测试通道3和通道4波形。  blob.png  测试通道3  图中蓝色为SW电压波形,红色为电感电流波形;将黄色标示放大后继续观察波形  测试通道4  通过观察可以发现:当上管导通时SW电压是随电感电流增大而减小的,因此我们可以用以下公式粗略估算上管Rdson:  Rdson=△Vsw/△IL  △Vsw=VA-VB △IL=ID-IC  同理,此方法亦可粗略估算下管Rdson  精确估算  示波器通道1接Vin脚(探针紧贴Vin引脚,接地线紧贴GND引脚,减小PCB走线阻抗),示波器3通道探棒接芯片SW脚(探针紧贴SW引脚,接地线紧贴GND引脚,减小PCB走线阻抗),示波器通道4电流探头(型号:TeKtronixTCP202)测试电感电流。  VCC供电,让芯片工作在PWM电流连续模式,测试通道3和通道4波形。  测试通道3  图中蓝色为SW电压波形,红色为电感电流波形;黄色为Vin电压波形,将绿色标示放大后继续观察波形  测试通道4  通过观察可以发现:  ◆当在t1时刻时,PMOS两端电压△Vmos1=V1-V3,而此时流过上管电流为I1,那么t1时刻,上管Rdson1=△Vmos1/I1  =(V1-V3)/I1  ◆当在t2时刻时,PMOS两端电压△Vmos2=V2-V4,而此时流过电流为I2,那么t2时刻,上管Rdson2=△Vmos2/I2  =(V2-V4)/I2

DC-DC降压芯片Rdson常用测量方法介绍

  ◆由分式合分比定理可以得出  Rdson=  即Rdson=  =  对于”利用100%占空比测量上管Rdson”的测试,其局限性在于芯片本身可以100%占空比工作;但其测试值误差较小,相对精确(忽略芯片内部绑定线阻抗)。  对于”利用示波器进行Rdson测量”?测试的简单估算,其测试值误差相对较大,但可以用此方法测试下管Rdson。  对于”利用示波器进行Rdson测量”测试的精确估算,其测试值误差较小,相对精确(忽略芯片内部绑定线阻抗);但测试过程相对繁琐,且受限示波器精度影响。  测试Rdson时,可根据实际条件灵活测试。

原发布时间:2017-7-11 16:10:43

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